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LSI封裝的發展

admin @ 2014-03-19 , reply:0

概述

名稱:LSI封裝的發展LSI封裝的市場動向世界電子信息設備市場,按LSI封裝形式加以歸納,如圖1所示,總交貨量在2003年轉向增大,其後順逐增加,到2005年預料將達到2001年的1.5倍的規模。從封……
名稱:LSI封裝的發展
LSI封裝的市場動向
世界電子信息設備市場,按 LSI封裝形式加以歸納,如圖 1所示,總交貨量在 2003年轉向增大,其後順逐增加,到 2005年預料將達到 2001年的 1.5倍的規模。
從封裝形式看,以 SOP(小外型封裝 )和 QFP(四邊扁平封裝 )為代表的表面貼裝居於主流,佔壓倒的比例,此趨勢在 2005年也幾乎不變。從增長率看, 2005年預料將比 2001年上升 50%。
與之相對, DIP(雙列直插式封裝 )為代表的引腳插入型封裝在 2002年只佔總量的 10%,但逐漸減少的趨勢一直持續,到 2005年將縮小到 6%左右。而另一方面,以 BGA(球柵陣列 )或 CSP(晶元尺寸封裝 )為代表的面陣列封裝在 2002年以後顯示了較大的增長率,到 2005年將為 2001年的 3倍規模,達到所有封裝 10%以上的佔有率。
除上述外,預料有顯著增長的將是 3D形式的 SiP封裝 (系統封裝 )。在 2001年時幾乎還是出不來統計數字的程度,但 2005年將達到 2001年 5倍的規模,比例佔到整個封裝的 3%以上。

圖 1多種封裝形式需求量變化與預測

圖 2 LSI封裝形式的變化
LSI封裝的技術演進
總體分析
系統產品熱電性能不斷提升,特別是高頻高引腳數的需求,促使封裝技術從傳統的周邊引腳封裝走向面陣列封裝,也就是引腳插入型進展到表面貼裝,而後從 SCP(單晶元封裝 )進展到 SiP。新的封裝形式問世,但並不意味著過去的封裝便馬上被取代而消失了,在相當一段時間內,仍是過去的封裝形式佔據主流。即使今天,周邊引腳封裝的 SOP及 QFP仍佔大多數。各種封裝形式在技術上的變化示於圖 2。
早期的 DIP封裝引腳位於 IC的兩側,多用於引腳數在 64隻以下的器件,包括各種存儲器和微控制器。之後的表面貼裝又分為引腳在 IC兩側的 SOP和引腳分佈在 IC四周的 LCC(有引線 /無引線晶元載體 )和 QFP形式。 SOP用於引腳數在 64隻以下的器件,包括 TSOP(薄型小外型封裝 )、 TSSOP(薄型微縮小外型封裝 )、 SSOP(微縮小外型封裝 )、 SOJ(小外型 J型引腳 )等。 QFP常用於 ASIC、邏輯 IC與各種中低端器件的高引腳數封裝,引腳數範圍為 36-208和 212-304。
為配合 IC引腳數越來越多以及器件體積走向輕薄短小的趨勢, 1990年代之後開始發展以錫球連接晶元與電路板的 BGA封裝形式,並進一步發展出 FPBGA(微細間距 BGA)、 CSP、 FCP(倒裝晶元封裝 )、 WLP(晶圓級封裝 )、 TCP(卷帶式封裝 ),以及結合多種封裝技術將多顆晶片結合在一起的 MCP(多晶元封裝 )、 SiP等高端封裝技術,以滿足 CPU、 PC晶元組、繪圖晶元、 FPGA、 ASIC晶元的高效能、高速、高集成度、高 I/O數、環保、省電等需求。
BGA封裝適用於高引腳數 IC產品,主要為 SoC、繪圖晶元組、 FPGA、無線通信等應用晶元,尤其 I/O數超過 300,傳統的引腳插入型封裝方式已經無法滿足需求, BGA封裝市場因而日漸擴大。
CSP適用於低引腳數 IC,封裝后的 IC面積比裸晶元大小不超過 1.2倍, CSP的優點在於小型與薄型,可提供良好的散熱性,主要用於 DRAM、 SRAM、 Flash等存儲器產品。尤其是 SDRAM延伸出來的新器件 DDRⅡ超向高速,體積小,高容量發展,以 CSP為標準封裝形式,傳統的 TSOP封裝已無法支持其基本架構,必須向 CSP轉型。
三大技術趨勢
Flip Chip技術為典型的晶圓級封裝,以晶元凸塊 (bump)與基板 (substrate)連接而取代打線接合 (wire bonding)技術,適合 I/O數在 1000以上的產品,其優勢在於能大幅提高產品的電性和散熱效能。 Flip Chip適合高引腳數、高速、多功能的器件,如具備通信、上網、無線傳輸、數字圖象處理、 GPS功能的高效能 MCU、 MPU、 ASIC、 RF、高端 DSP、 SoC、繪圖晶元組等,應用層面十分廣泛。但其進入門檻高,技術勝出者才能佔盡市場優勢。
傳統 IC封裝製程是先將晶圓切割成裸晶元,再進行測封,而 WLP簡化了上述流程,直接在整個晶圓上進行封裝和測試之後,再切割成單顆晶粒,中間不再需要經過任何封裝步驟,明顯縮小了 IC尺寸,亦大幅降低了封裝成本。 WLP的優點還在於:由於晶元與電路板間只隔著焊球,因此可縮短電路傳輸路徑,降低了電感與電容,故可有效減少電流損耗與電磁波干擾發生的機率,進而提高電路的工作效率;由於少了 IC外部密封的塑膠或陶瓷包裝,故 IC晶元工作時所產生的熱損耗,可直接從晶元背部以熱傳導與熱輻射的方式發散,可有效解決移動電子裝置的散熱問題。目前攜帶型電子產品如行動電話、 PDA、筆記本電腦、數碼相機與 MP3播放器等,皆受惠於 WLP技術。應用主要集中在三個領域,亦即低 I/O數 IC(如模擬、射頻、功放、電源器件 )、存儲器 (EEPROM、 Flash)與無源元件。未來市場發展除了低引腳數器件持續增加外,存儲器等高速器件的應用也將會不斷發展。
SoC現階段的發展面臨瓶頸與挑戰,如 0.13微米的光罩費用就高達 100萬美元以上,另一方面製程間距越縮小,柵極漏電流越大,再者細微化后亦造成高速化困難。 SiP由於封裝中各個元件間仍維持獨立,因此可避免遇到 SoC設計中模擬與數字電路集成后製程上的困難,並降低電路設計的複雜度,縮短設計時間,並可確保良品率。因此在 SoC技術尚未成熟之際, SiP有良好的發展機會,將成為許多系統廠商的首眩過去的 SiP技術,仍以將組合成系統的多個裸晶元放在同一個基板平面上的 2D形式為主,而將 IC與基板連接的方式,則有打線、倒裝以及卷帶自動接合 (Tape Automated Bonding, TAB)等等技術,此種封裝形式仍有電路傳輸路徑過長,封裝體積太大的種種缺點。之前的 MCM(多晶元模塊 )封裝即是一個 2D平面形式的 SiP案例。 MCM是將多個 IC放置於同一個基板平面上、再以打線互相連接。但此種封裝形式除了以上傳輸路徑長,封裝體積難以縮小的缺點之外,在良品率的控制上也有困難,為了改善上述缺點,目前 SiP以逐漸朝向將晶元以 3D形式堆疊封裝的趨勢發展。 3D堆疊封裝分為兩種,一是直接先堆疊裸晶元並連接於基板后,再進行封裝 (chip stacked),另一種則是將多個封裝好的晶元堆疊之後再組合到一起 (package stacked)。前者的封裝方式,最多只能重疊四層裸晶元,而且在測試上有其難度,目前 3D形式的 SiP仍是以後者的 package stacked為主,不但擁有可預先測試的優點,可堆疊的層數也較多,而且可滿足輕薄短小的需求。

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