這裡我們按缺陷劃分，可將晶體分為不同種類；
（雲母）
晶體按缺陷劃分：
點缺陷：在二維尺寸小，在另一維尺寸大，可被電鏡觀察到；
面缺陷：在一維尺寸小，在另二維尺寸大，可被光學顯微鏡觀察到；
體缺陷：在三維尺寸較大，如鑲嵌塊，沉澱相，空洞，氣泡等；
按形成原因劃分：
1. 熱缺陷（晶格位置缺陷）
在晶體點陣的正常格點位出現空位，不該有質點的位置出現了質點（間隙質點）；
2. 組成缺陷
外來質點（雜質）取代正常質點位置或進入正常結點的間隙位置；
3. 電荷缺陷
晶體中某些質點個別電子處於激髮狀態，有的離開原來質點，形成自由電子，在原來電子軌道上留下了電子空穴；
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