一款單節晶體管性能測試電路圖。如下圖所示，被測單結晶體管VBT（設：BT33）與R3、C2組成張弛振蕩器。VBT在導通時，三極體VT1通過偏置電阻R2獲得偏置電流（此時S1斷開，S2閉合），發光二極體H1發光。 其中，10V電源通過R3經VD2向C2充電。電壓表V可以測量出C2兩端的電壓會隨著時間的推移在不斷上升，E端電位達到VBT的峰值電壓時，VBT的E~B1間便自動導通，電容C1上的電壓經E~B1放電，使三極體VT1的發射結受反偏截止，H1熄滅。如果被測 單結晶體管VBT是好的，電容C1就會周而復始地充電放電，H1就會明暗交替地閃光。若是H1一直亮著，可將VBT的B1、B2腳調換檢測（這樣也便於正確區分出Bl、B2管腳），要不然則此單節晶體管是壞管。
[admin via 研發互助社區 ] 單節晶體管性能測試電路已經有2664次圍觀
本文地址：http://cocdig.com/docs/show-post-5849.html
