LED分選方法及分選發展趨勢

admin @ 2014-03-19 , reply:0

LED分選方法及分選發展趨勢
 LED分選方法及分選發展趨勢

LED通常按照主波長、發光強度、光通亮、色溫、工作電壓、反向擊穿電壓等幾個關鍵參數進行測試與分選。LED的測試與分選是LED生產過程中的一項必要工序。目前,它是許多LED晶元和封裝廠商的產能瓶頸,也是LED晶元生產和封裝成本的重要組成部分。

  在早期,由於LED主要被用作指示或顯示燈用,而且一般以單顆器件出現,所以對於其波長的分選和亮度的控制要求並不高。但隨著LED的效率和亮度的不斷提高,其應用範圍越來越廣。當LED作為陣列顯示和顯示屏器件時,由於人眼對於顏色波長和亮度的敏感性,用沒有分選過的LED變就會產生不均勻的現象,進而影響人們的視覺效果。波長和光亮度的不均勻都會給人產生不舒服的感覺。這是各LED顯示器製造廠家都不願意看到的,也是人們無法接受的。

1、LED的分選方法



LED的分選有兩種方法:一是以晶元為基礎的測試分選,二是對封裝好的LED進行測試分選。



  (1)晶元的測試分選



LED晶元分選難度很大,主要原因是LED晶元尺寸一般都很小,從9mil到14mil(0.22-0.35nm)。這樣小的晶元需要微探針才能夠完成測試,分選過程需要精確的機械和圖像識別系統,這使得設備的造價變得很高,而且測試速度受到限制。現在的LED晶元測試分選機價格約在100萬元人民幣台,其測試速度在每小時10000隻左右。如果按照每月25天計算,每一台分選機的產能為每月5KK.



目前,晶元的測試分選有兩種方法:



一種方法是測試分選由同一台機器完成,它的優點是可靠,但速度很慢,產能低;



另一種方法是測試和分選由兩台機器完成,測試設備記錄下每個晶元的位置和參數,然後把這些數據傳遞到分選設備上,進行快速分選、這樣做的優點是快速,但缺點是可靠性比較低,容易出錯,因為在測試與分選兩個步驟之間通常還有襯底減薄和晶元分離的工藝過程,而在這個過程中,外延片有可能碎裂、局部殘缺碎裂或局部殘缺,使得實際的晶元分佈與儲存在分選機里的數據不符,造成分選困難。



從根本上解決晶元測試分選瓶頸問題的關鍵是改善外延片均勻性。如果一片外延片波長分佈在2nm之內,亮度的變化在+15%之內,則可以將這個片子上的所有晶元歸為一檔(Bin),只要通過測試把不合格的晶元去除即可,將大大增加晶元的產能和降低晶元的成本。在均勻性不是很好的情況下,也可以用測試並把 “不合格產品較多”的晶元區域用噴墨塗抹的方式處理掉,從而快速地得到想要的“合格”晶元,但這樣做的成本太高,會把很多符合其他客房要求的晶元都做為不合格證的廢品處理,最後核算出的晶元成本可能是市場無法接受的水平。



 (2)LED的測試分選



封裝后的LED可以按照波長、發光強度、發光角度以及工作電壓等進行測試分選。其結果是把LED分成很多檔(Bin)和類別,然後測試分選機會自動地根據設定的測試標準把LED分裝在不同的Bin盒內。由於人們對於LED的要求越來越高,早期的分選機是32Bin,後來增加到64Bin,現在已有 72Bin的商用分選機。即使這樣,分Bin的LED技術指標仍然無法滿足生產和市場的需求。



LED測試分選機是在一個特定的工作台電流下(如20mA),對LED進行測試,一般還會做一個反向電壓值的測試。現在的LED測試分選機價格約在 40~50萬人民幣/台,其測試速度在每小時18000隻左右。如果按照每月25天,每天20小時的工作時間計算,每一台分選機的產能為每月9KK.



大型顯示屏或其他高檔應用客戶,對LED的質量要求較高。特別是在波長與亮度一致性的要求上很嚴格。假如LED封裝廠在晶元採購時沒有提出嚴格的要求,則這些封裝廠在大量的封裝後會發現,封裝好的LED中只有很少數量的產品能滿足某一客戶的要求,其餘大部分將變成倉庫里的存貨。這種情形迫使LED封裝廠在採購LED晶元時提出嚴格的要求,特別是波長、亮度和工作台電壓的指標;比如,過去對波長要求是+2nm,而現在則要求為+1nm,甚至在某些應用上,已提出+0.5nm的要求。這樣對於晶元廠就產生了巨大的壓力,在晶元銷售前必須進行嚴格的分選。



從以上關於LED與LED晶元分選取的分析中可以看出,比較經濟的做法是對LED進行測試分選。但是由於LED的種類繁多,有不同的形式,不現的形狀,不同的尺寸,不同的發光角度,不同的客戶要求,不同的應用要求,這使用權得完全通過LED測試分選取進行產品的分選變得很難操作。而且目前LED的應用主要分佈在幾個波長段和亮度段的範圍,一個封裝廠很難準備全部客戶需要的各種形式和種類的LED.所以問題的關鍵又回到MOCVD的外延工藝過程,如何生長出所需波長及亮度的LED外延片是降低成本的關鍵點,這個問題不解決,LED的產能及成本仍將得不到完全解決。但在外延片的均勻度得到控制以前,比較行之有效的方法是解決快速低成本的晶元分選問題。



  2、分選設備



目前,LED晶元的測試分選設備主要由美國和日本廠商提供,而LED的測試分選設備大多由台灣地區、香港廠商提供,中國大陸還沒有能提供類似設備的廠家。LED晶元分選機主要包括兩大硬體部分(機器手、微探針和光電測試儀)和一套系統軟體,而這三部分分別由不同廠家提供再集成起來;而LED測試分選取機則包括LED的機械傳輸,儲存和光電測試兩部分。



  3、LED分選取技術發展趨勢



(1)在外延片的均勻度得到控制以前,研發快速低成本晶元分選工藝和設備。



(2)隨著W級功率LED技術的發展,傳統LED產品參數檢測標準及測試方法已不能滿足照明應用的需要,須開發全新的測試標準和方法,包含更多的與照明相關的光學內容。



(3)在LED系統壽命測試中,研發LED系統的長期性能和壽命快速測定評價技術。



(4)照明用LED是處於大電流驅動下工作,這就對其提出更高的可靠性要求。傳統LED的篩選方式不合適照明用大功率LED,必須開發新的篩選試驗辦法,剔除早期失效品,保證產品的可靠性。







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